< Назад | Содержимое | Далее >
теория передачи контраста, основанная на более точном коэффициенте перекрестного пропускания первого порядка (Ishizuka, 1980). Детали этих моделей кратко описаны в Приложении E. Хотя первая модель имеет меньшую вычислительную стоимость, чем вторая, теория линейного переноса контраста имеет тенденцию к отказу для более толстых образцов, в которых приближение слабого фазового объекта не выполняется. Последняя модель является более надежным вариантом, даже для более толстых образцов и/или материалов с
более высоким атомным числом (Z). Кроме того, случайное отклонение изображения относительно детектора из-за таких факторов, как дрейф образца, нестабильность тока линзы, тепловой магнитный шум и функция передачи модуляции детекторов, можно аппроксимировать как гауссово размытие изображений HRTEM для преодоления или уменьшения фактора Стоббса (Hy¨tch & Stobbs, 1994; Sucht, 2009).
На рис. 8 показано окно симулятора HRTEM. Оптические параметры электронного микроскопа (такие как ускоряющее напряжение, коэффициент сферической аберрации, значение расфокусировки и толщина образца) можно задать через графический интерфейс на правой панели окна. Смоделированные изображения отображаются на левой панели окна. Пользователи могут
8. Симулятор HRTEM